一、直流耐壓及走漏電流實(shí)驗(yàn)的作用 直流耐壓及走漏電流實(shí)驗(yàn)與絕緣電阻的測定性質(zhì)上是相反的，與絕緣電阻測直流高壓發(fā)生器定相反的是直流耐壓及走漏電流實(shí)驗(yàn)時，實(shí)驗(yàn)電壓值是逐漸降低的，能夠用相反電壓下走漏電流的大小來判別被試物的絕緣形態(tài)，并且****的實(shí)驗(yàn)電壓比擬高，從而可以發(fā)覺絕緣電阻測定進(jìn)程中所使不得發(fā)覺的絕緣缺點(diǎn)，尤其是被試物的局部絕緣缺點(diǎn)。直流耐壓實(shí)驗(yàn)的作用是實(shí)驗(yàn)絕緣的抗電強(qiáng)度，強(qiáng)加的直流電壓比擬高，關(guān)于找到局部缺點(diǎn)更具特別意思。走漏電流實(shí)驗(yàn)電壓是逐漸晉升的，優(yōu)良絕緣在定然的電壓范疇內(nèi)，絕緣電阻值是不隨實(shí)驗(yàn)電壓變化的，假如走漏電流隨電壓下降不可對比的疾速增多，則標(biāo)明絕緣具有缺點(diǎn)。此外優(yōu)良絕緣的吸引景象應(yīng)非常顯然，走漏電流應(yīng)隨實(shí)驗(yàn)時間的延伸而降落，假如走漏電流隨實(shí)驗(yàn)時間的增多而下降，則標(biāo)明絕緣具有缺點(diǎn)，并且缺點(diǎn)在發(fā)展，這時應(yīng)延伸實(shí)驗(yàn)時間、進(jìn)步實(shí)驗(yàn)電壓，找到絕緣缺點(diǎn)。假如實(shí)驗(yàn)進(jìn)程中，涌現(xiàn)走漏電流大小擺動變遷，則標(biāo)明被試絕緣或者實(shí)驗(yàn)器存在放電景象，應(yīng)細(xì)心審查找到缺點(diǎn)。 本文章由直流電阻測試儀生產(chǎn)廠家-上海百試電氣科技有限公司為您提供！ 二、直流耐壓及走漏電流實(shí)驗(yàn)辦法 直流耐壓及走漏電流實(shí)驗(yàn)設(shè)備，正常由調(diào)壓器、實(shí)驗(yàn)變壓器、半超導(dǎo)體硅堆構(gòu)成的半波整組電路和測試儀表形成，實(shí)驗(yàn)接線如圖1-4所示。 圖1-4 直流耐壓及走漏電流實(shí)驗(yàn)接線圖 接線終了通電實(shí)驗(yàn)前，應(yīng)經(jīng)****人審查接線及運(yùn)用儀表能否準(zhǔn)確，實(shí)驗(yàn)電源電壓能否準(zhǔn)確，調(diào)壓器曲柄能否在零位。而后合上電源開關(guān)，調(diào)理調(diào)壓器使實(shí)驗(yàn)設(shè)備輸出電壓逐漸降低到所需求的實(shí)驗(yàn)電壓值，同聲測量實(shí)驗(yàn)設(shè)備和接線的走漏電流，并記載上去（被試絕緣的走漏電流實(shí)踐值，應(yīng)為總的走漏電流減少實(shí)驗(yàn)設(shè)備和接線本身的走漏電流）�？隙▽�(shí)驗(yàn)設(shè)備和接線正確后，調(diào)壓器曲柄回零位，堵截實(shí)驗(yàn)電源開關(guān)，變壓器直流電阻測試儀接入被試設(shè)備。對于被試設(shè)備進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的進(jìn)程中，應(yīng)逐段進(jìn)步實(shí)驗(yàn)電壓，并讀取呼應(yīng)的走漏電流值，每點(diǎn)停止一秒鐘，以縮小充電電流的影響。直流耐回路電阻測試壓的實(shí)驗(yàn)時間，依據(jù)有關(guān)的規(guī)定、標(biāo)準(zhǔn)肯定。 三、實(shí)驗(yàn)注意須知 1.實(shí)驗(yàn)設(shè)備與被試設(shè)備聯(lián)接的高壓導(dǎo)線，應(yīng)采納絕緣優(yōu)良且盡量短的導(dǎo)線，并使其對于地及其余接地全體有剩余的間隔，以縮小雜散電流的干擾。 2.關(guān)于能分相實(shí)驗(yàn)的設(shè)備必需分相實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)一相或者一相線圈時，其余相或者線圈應(yīng)短路接地。 3.實(shí)驗(yàn)進(jìn)程中，如涌現(xiàn)擊穿、閃絡(luò)、微安表大幅擺動或者走漏電流漸變等異樣狀況，應(yīng)即時升高實(shí)驗(yàn)電壓，堵截實(shí)驗(yàn)電源，調(diào)查緣由并解決后再做實(shí)驗(yàn)。 4.實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)后，應(yīng)答被試物短路放電保障保險，同聲依據(jù)被試物放焊花大小和聲響的強(qiáng)弱可或者許理解被試物絕緣狀況。 5.量度對于走漏電流的影響極為明顯，走漏電流實(shí)驗(yàn)****幸虧被試物為30～80℃時進(jìn)行，在此量度范疇內(nèi)走漏電流變遷較為顯然，高溫特別是零度以次實(shí)驗(yàn)，難以失去準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)后果。 |
